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集成電路封裝用環(huán)氧模塑料的發(fā)展動向

時間:2011-03-30 11:10來源: 作者: 點擊:
隨著電子工業(yè)的飛速發(fā)展集成度迅速從16K比特發(fā)展到265K比特.樹脂純度的提高 IC中的鋁電極極易受到樹脂中的Na+.據研究.由于電子.電氣工業(yè)迅速發(fā)展.為其配套的環(huán)氧樹脂材料也隨之發(fā)展
    隨著電子工業(yè)的飛速發(fā)展,集成度迅速從16K比特發(fā)展到265K比特,又飛躍到64M比特,目前發(fā)達國家已實現了64M比特超大規(guī)模集成電路(VLSl)的工業(yè)化生產,線徑0.3μm。集成度的提高、元件的小型、扁平化均對EMC提出了更高的要求。
 
    (1)樹脂純度的提高  IC中的鋁電極極易受到樹脂中的Na+、Cl-的腐蝕,因此必須嚴加控制,進一步提高環(huán)氧樹脂凈化技術。目前已使高純度的鄰甲酚甲醛樹脂實現了工業(yè)化生產Na+含量<1×10-6,Cl-<1×10-6,可水解氯<350×10-6;超高純度的樹脂正在創(chuàng)造條件進入工業(yè)化生產階段Na+、Cl-含量同前,可水解氯量進一步下降<150×10-6。
 
    (2)封裝料可靠性的提高   其關鍵技術是實現低應力化,封裝后的IC在經受嚴格的冷、熱沖擊,高壓水蒸煮的試驗時,致使封裝失敗的原因是內應力引起的封裝料和元件界面發(fā)生開裂。所以在實現封裝料的低應力化時,只有采取降低線膨脹系數和降低彈性率,降低線膨脹系數的最好方法是在封裝料中使用高填充量的二氧化硅。據研究,當填料量應達到60%~70%(體積分數),甚至更高,線膨脹系數可低達1.0×10-5/℃,固化收縮幾乎是零。高填充量會使模塑料的熔融流動性變差,對策是使用平均粒度為6~8μm球型熔融二氧化硅。
 
    樹脂的低彈性率的對策:①鄰甲酚甲醛環(huán)氧樹脂和硅橡膠、丁腈橡膠共混形成海島結構;②環(huán)氧樹脂自身結構的變化,例如部分長鏈烷基代替原樹脂中的次甲基。此外,提高樹脂耐水性的方法是:在樹脂結構中引入萘、對環(huán)戊二烯和氟元素,使高壓蒸煮后的材料吸水率下降25%以上。
 
    由于電子、電氣工業(yè)迅速發(fā)展,技術更新十分迅速,為其配套的環(huán)氧樹脂材料也隨之發(fā)展,是技術更新比較快的領域。
 
    目前,印刷線路板發(fā)展的趨勢是提高耐熱性、多層化、高密度化。對于電子元器件的小型化、薄形化,必須解決吸濕性、耐熱性的問題,同時要求提高耐銅遷移性能。另外,隨著計算機演算的高速化,提高材料的介電常數和降低介電損耗也是十分重要的。為了解決上述一系列問題,阻燃型環(huán)氧樹脂材料開始從TB-BA型(四溴雙酚A型)向具有特殊結構的樹脂過渡。
 
    在半導體包封領域,伴隨著表面實裝化的擴大,為了抑制包封材料的開裂,對材料提出了耐熱沖擊性、耐焊錫反流性以及低膨脹系數等課題。從提高生產性的觀點出發(fā),期望開發(fā)適應于無管殼化的環(huán)氧樹脂材料。
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